多層膜厚度測試儀是一款快速、準確測量薄膜表征應用的模塊化產品。它采用先進的超聲波技術，實現了較好的測量精度，具有優秀重復性和再現性。產品可以在任何生產環境中操作。附帶的Windows應用軟件管理數據傳輸和自動超聲波波形分析。
目前，產品可應用于在線膜厚測量、測氧化物、SiNx、感光保護膜和半導體膜。同時多層膜厚度測試儀還可以用來測量鍍在鋼、鋁、銅、陶瓷和塑料等上的粗糙膜層。薄膜表面或界面的反射光會與從基底的反射光相干涉，干涉的發生與膜厚及折光系數等有關，因此可通過計算得到薄膜的厚度。光干涉法是一種無損，且快速的光學薄膜厚度測量技術，薄膜測量系統采用光干涉原理測量薄膜厚度。
多層膜厚度測試儀的特點：
1、可以測量多層膜中每一層的厚度；
2、遠程控制和在線測量；
3、豐富的材料庫：操作軟件的材料庫帶有大量材料的n和k數據，基本上常用材料都包括在這個材料庫中。用戶也可以在材料庫中輸入沒有的材料；
4、操作簡單，測速快：膜厚測量儀操作非常簡單；
5、帶有可升級的掃描功能，進行薄膜二維的測試，并將結果以2D或3D的形式顯示；
6、帶有構建材料結構的拓展功能，可對多層薄膜數據進行擬合分析，可對薄膜材料進行預先模擬設計。
好了！關于多層膜厚度測試儀使用特點的講解，今天我們就說到這里，希望您看完有所收獲，后期我們會持續更新！
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