膜厚測量儀典型的工作原理有哪三種，適用范圍有什么不同？

　　用過膜厚測試儀的人可能都知道，它可以分為手持式和臺式二種，手持式又有磁感應鍍層測厚儀，電渦流鍍層測厚儀，熒光X射線儀鍍層測厚儀。那么他們都采用了什么樣的原理來實現測量目的的呢？今天就通過三個典型的型號案例來詳細展開講一講原理和適用范圍的事情。
 

　　我們先要明確一點，不同膜厚儀測量原理是有區別的，其適用范圍也會有差異，主要的就是以下3種，岱美儀器小編給大家詳細介紹下：
 

　　1、渦流法檢測法原理：
 

　　渦流膜厚儀工作原理：利用渦流法檢測法，能夠檢測金屬表面的氧化膜、漆膜或電鍍膜等膜的厚度；但是，金屬材料的性質不同，漆膜后檢測也有很大不同。
 

　　2、白光干涉原理：
 

　　在被測量的薄膜上垂直照射可視光，光的一部分在膜的表面反射，另一部分透進薄膜，然后在膜與底層之間的界面反射，薄膜表面反射的光和薄膜底部反射的光產生干涉現象。利用白光干涉測量法的原理，它用一個寬波段的光源來測得不同波長的反射數據，由于反射率n和k隨薄膜的不同而變化，根據這一特性進行曲線擬合從而求得膜厚。不同類型材料的相應參數通過不同的模型來描述，從而保證了不同類型材料膜厚測量的準確性。
 

　　3、磁感應原理：
 

　　采用磁感應原理時，利用從測頭經過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來測定覆層厚度。也可以測定與之對應的磁阻的大小，來表示其覆層厚度。覆層越厚，則磁阻越大，磁通越小。利用磁感應原理的測厚儀，原則上可以有導磁基體上的非導磁覆層厚度。一般要求基材導磁率在500以上。如果覆層材料也有磁性，則要求與基材的導磁率之差足夠大(如鋼上鍍鎳)。當軟芯上繞著線圈的測頭放在被測樣本上時，儀器自動輸出測試電流或測試信號。
 

　　早期的產品采用指針式表頭，測量感應電動勢的大小，儀器將該信號放大后來指示覆層厚度。一些電路設計引入穩頻、鎖相、溫度補償等地新技術，利用磁阻來調制測量信號。還采用設計的集成電路，引入微機，使測量精度和重現性有了大幅度的提高(幾乎達一個數量級)。現代的磁感應測厚儀，分辨率達到0.1um，允許誤差達1%，量程達10mm。
 

　　綜上是比較常見的3種膜厚測量儀的原理分析以及應用情況說明，還有一些其他類型的儀器以后會給大家再一一介紹，希望能幫助到廣大用戶。