<object id="mai2d"><em id="mai2d"><sub id="mai2d"></sub></em></object>

    1. <rt id="mai2d"></rt>

      <cite id="mai2d"></cite>
      <tt id="mai2d"><tbody id="mai2d"><del id="mai2d"></del></tbody></tt>
      <video id="mai2d"><menuitem id="mai2d"><strike id="mai2d"></strike></menuitem></video>

      <rt id="mai2d"></rt>

      <rt id="mai2d"></rt>
    2. <tt id="mai2d"></tt>

      歡迎來到岱美儀器技術服務(上海)有限公司網站!
      岱美儀器技術服務(上海)有限公司
      咨詢熱線

      4008529632

      當前位置:首頁  >  產品中心  >    >  全自動測量機臺  >  UltraFilm - 薄膜測量系統

      UltraFilm - 薄膜測量系統

      簡要描述:系統可以為各種材質薄膜提供高精度的厚度均勻性測量。使用創新的融合光譜反射技術、近紅外干涉技術以及高亮度光源驅動的光譜橢偏儀技術的多傳感器融合測量技術,是國內可以實現同質膜厚全自動檢測的系統。

      • 產品型號:
      • 廠商性質:代理商
      • 產品資料:
      • 更新時間:2024-03-21
      • 訪  問  量: 702

      產品分類

      Product Category

      相關文章

      Related Articles

      詳細介紹

      系統可以為各種材質薄膜提供高精度的厚度均勻性測量。使用創新的融合光譜反射技術、近紅外干涉技術以及高亮度光源驅動的光譜橢偏儀技術的多傳感器融合測量技術,是國內可以實現同質膜厚全自動檢測的系統。

      一一一一一一一一一一一一一一一一一一一一一一一一一一一一一一一一一一一一一一一一

      *1:靜態精度或可稱為同點位多次連續測量的最大偏差值,數據為針對50um厚度雙拋玻璃片進行實驗的結果

      *2:多次取放測量同點位數據的最大三倍標準差值,數據為針對50um厚度雙拋玻璃片進行實驗的結果

       

       

       

      產品咨詢

      留言框

      • 產品:

      • 您的單位:

      • 您的姓名:

      • 聯系電話:

      • 常用郵箱:

      • 省份:

      • 詳細地址:

      • 補充說明:

      • 驗證碼:

        請輸入計算結果(填寫阿拉伯數字),如:三加四=7
      成人免费区一区二区三区