膜厚測量儀|百科

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Filmetrics F3-sX硅片厚度測量

硅片厚度測量儀采用的是近紅外光(NIR)來測量膜層厚度，因此可以測試一些肉眼看是不透明的膜層( 比如半導體膜層) 。

更新時間：2024-03-19

型號：Filmetrics F3-sX

廠商性質：代理商

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