近年來，隨著儀器行業的不斷發展，多波段橢偏儀在市場上得到了快速地發展。由于其突出的表現，受到了廣泛用戶的青睞。目前本產品可以適用于超薄膜，與樣品非接觸等，下面我們就來具體的了解一下這款儀器！在多波段橢偏儀的測量中使用不同的硬件配置，但每種配置都必須能產生已知偏振態的光束。測量由被測樣品反射后光的偏振態。這要求儀器能夠量化偏振態的變化量ρ。有些儀器測量ρ是通過旋轉確定初始偏振光狀態的偏振片。再利用第二個固定位置的偏振片來測得輸出光束的偏振態。另外一些儀器是固定起偏器和檢偏器，而...

接觸式光刻機是一種用于信息科學與系統科學、能源科學技術、電子與通信技術領域的工藝試驗儀器。主要構成：主要由對準工作臺、雙目分離視場CCD顯微顯示系統、LED曝光頭、PLC電控系統、氣動系統、真空管路系統、直聯式真空泵、二級防震工作臺和附件箱等組成。接觸式光刻機的使用原理：其實在我國對于接觸式光刻機，曝光時掩模壓在光刻膠的襯底晶片上，其主要優點是可以使用價格較低的設備制造出較小的特征尺寸。我們也許不知道接觸式光刻和深亞微米光源已經達到了小于0.1gm的特征尺寸，常用的光源分辨率...

硬化涂層膜厚儀是一款快速、準確測量薄膜表征應用的模塊化解決方案，要求的光斑尺寸小到幾個微米，如微圖案表面，粗糙表面及許多其他表面。它可以配備一臺計算機控制的XY工作臺，使其快速、方便和準確地描繪樣品的厚度和光學特性圖。工作原理：本產品采用電磁感應法測量涂層的厚度。位于部件表面的探頭產生一個閉合的磁回路，隨著探頭與鐵磁性材料間的距離的改變，該磁回路將不同程度的改變，引起磁阻及探頭線圈電感的變化。利用這一原理可以精確地測量探頭與鐵磁性材料間的距離，即涂層厚度。硬化涂層膜厚儀的符合...

去膠工藝是微加工過程中一個重要的過程，在電子束曝光，紫外曝光等微納米加工工藝后，都要對光刻膠進行去除或打底膜處理。光刻膠是否去除干凈對樣片是否有損傷等問題，將直接影響后續工藝的順利完成。等離子去膠性能出色的組件和軟件，可對工藝參數進行精確控制。它的工藝監測和數據采集軟件可實現嚴格的質量控制。該技術已經成功的應用于功率晶體管、模擬器件、傳感器、光學器件、光電、EMS/MOEMS、生物器件、LED等領域。產品具有去膠快速*；對樣片無損傷；操作簡單安全；設計緊湊美觀；產品性價比高等...

紅外激光測厚儀是用來測量材料及物體厚度的儀表，它常用來連續或抽樣測量鋼板、鋼帶、薄膜、紙張、金屬箔片等材料等產品的厚度。目前國內廠家普遍采用人工測量和控制的方法來管控板材的厚度，這存在著測量精度差的、成材率低等弊端，因此采用專業的測厚儀來能有效地改善測控環境，提高生產效率、提高成材率和產品質量。目前本產品主要應用于鋰電池正、負極涂布、鋰電池正、負極輥壓的厚度測量，以實際情況為例，使用時，可放置激光測厚儀于銀壓后和收卷前，在具有極片張力波動和銀壓機振動的復雜工況下測量設備使用浮...