膜厚測量儀是一種比較精密的監測設備，它在平時的使用中對于準確度的要求很高，但是還是會有誤差的現象發生，除了儀器本身的一些故障以外，環境因素也是造成誤差的一大“元兇”，本文就介紹一下膜厚測量儀在不同環境下誤差的產生和日常清潔保養：一、環境條件可能帶來的誤差：1、光柵計數尺的使用不當會對儀器造成誤差；2、在工作臺的移動過程中，有可能使直線角度發生偏差，從而造成測量誤差；3、工作臺中兩個測量軸務必要保持垂直，如果有偏差就會造成測量誤差；4、工作臺面和顯微鏡光軸也要保持垂直，有偏差也...

納米壓印機應用了是一種新型的微納加工技術。該技術通過機械轉移的手段，達到了超高的分辨率，有望在未來取代傳統光刻技術，成為微電子、材料領域的重要加工手段。納米壓印機優勢：由于納米壓印技術的加工過程不使用可見光或紫外光加工圖案，而是使用機械手段進行圖案轉移，這種方法能達到很高的分辨率。報道的高分辨率可達2納米。此外，模板可以反復使用，無疑大大降低了加工成本，也有效縮短了加工時間。因此，納米壓印技術具有超高分辨率、易量產、低成本、一致性高的技術優點，被認為是一種有望代替現有光刻技術...

橢圓偏振儀是一種用于探測薄膜厚度、光學常數以及材料微結構的光學測量設備。由于并不與樣品接觸，對樣品沒有破壞且不需要真空。可測的材料包括：半導體、電介質、聚合物、有機物、金屬、多層膜物質。可以應用于半導體、通訊、數據存儲、光學鍍膜、平板顯示器、科研、生物、醫藥等領域。主要功能：測量樣品的偏振參量信息等，可用于在線監測，也可用于離線的樣品測試；可使用不同大小的光斑探測樣品。橢圓偏振儀的調整要點主要步驟：1、調整分光計；2、調共軸（注意：用校光片，先不放檢偏器調，可以用白紙防在望遠...

白光干涉儀是一款用于對各種精密器件及材料表面進行亞納米級測量的檢測儀器。它是以白光干涉技術為原理、結合精密Z向掃描模塊、3D建模算法等對器件表面進行非接觸式掃描并建立表面3D圖像，通過系統軟件對器件表面3D圖像進行數據處理與分析，并獲取反映器件表面質量的2D、3D參數，從而實現器件表面形貌3D測量的光學檢測儀器。儀器可廣泛應用于半導體制造及封裝工藝檢測、3C電子玻璃屏及其精密配件、光學加工、微納材料及制造、汽車零部件、MEMS器件等超精密加工行業及航空航天、科研院所等領域中。...

3D劃痕儀使用了超新的劃痕頭和高分辨率的3D形貌儀，能夠讓用戶進行標準的劃痕測試，并在測試前后自動進行亞納米級的3D成像。劃痕試驗用于評估涂層和固體表面的粘附性和耐刮擦性。測試在受控的力下對樣品表面進行劃擦，劃痕頭在遞增、恒定或臺階增力的載荷下沿著樣品表面移動。通過檢測摩擦力、位移和聲發射等信號以及利用3D成像技術來檢測涂層破損。3D劃痕儀采用大速比大輸出扭矩齒輪減速箱，以保證在不同測試負載下劃針移動速度恒定，使測試結果具有較高的精度。本儀器目前可以做的是兩種底材的試驗。一種...